中國臺(tái)灣冷熱沖擊試驗(yàn)箱其中對(duì)工程產(chǎn)品(設(shè)備)的使用及壽命影響較大的因素不下幾十種。從事工程產(chǎn)品環(huán)境條件研究的工程師們將自然界存在以及人類活動(dòng)所誘發(fā)的環(huán)境條件整理歸納為一系列的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，用以指導(dǎo)工程產(chǎn)品的環(huán)境及可靠性試驗(yàn)。因此，我們選擇環(huán)境及可靠性試驗(yàn)設(shè)備時(shí)主要的依據(jù)是工程產(chǎn)品的試驗(yàn)規(guī)范和試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
　　其次，為了規(guī)范試驗(yàn)設(shè)備中環(huán)境試驗(yàn)條件的容差，保證環(huán)境參數(shù)的控制精度，國家技術(shù)監(jiān)督機(jī)構(gòu)及各工業(yè)部門還制訂了一系列的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備及檢測(cè)儀器儀表的檢定規(guī)程。這些檢定規(guī)程也是選擇環(huán)境及可靠性試驗(yàn)設(shè)備的重要依據(jù),不符合這些檢定規(guī)程要求的試驗(yàn)設(shè)備是不允許投入使用的。
　　中國臺(tái)灣冷熱沖擊試驗(yàn)箱也叫高低溫沖擊試驗(yàn)箱，其沖擊原理是用于測(cè)試復(fù)合材料或電子產(chǎn)品，在瞬間（約15秒）經(jīng)*溫或極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，在zui短時(shí)間內(nèi)，試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損害。中國臺(tái)灣冷熱沖擊試驗(yàn)箱目前適用的國標(biāo)及軍標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)如下：GB/T2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.2-2008高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.22-2008溫度變化試驗(yàn)；GJB150.5-2009溫度沖擊試驗(yàn)；GJB360.7-2009溫度沖擊試驗(yàn)；GJB367.2-2009 405溫度沖擊試驗(yàn)。
　　中國臺(tái)灣冷熱沖擊試驗(yàn)箱的工作原理相對(duì)比較簡單，是通過高溫與低溫之間的快速轉(zhuǎn)換，達(dá)到一種溫沖的目的，從而檢驗(yàn)產(chǎn)品或材料在這種環(huán)境下的變化情況。溫度沖擊試驗(yàn)廣泛應(yīng)用在：航空、、艦船、電工、電子、儀器儀表、醫(yī)療器械、民用核能、高等院校、科研實(shí)驗(yàn)所；技術(shù)監(jiān)督部門、建材陶瓷、石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。由于中國臺(tái)灣冷熱沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)嚴(yán)酷性，很多產(chǎn)品或電子產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用過程中必須接受此項(xiàng)溫度試驗(yàn)，如電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理損害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，是相關(guān)材料理想的測(cè)試先鋒。